（一）、X熒光光譜儀簡單介紹之---x熒光的基本原理：當一束高能粒子與原子相互作用時，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結合能，將該軌道電子逐出，對應的形成一個空穴，使原子處于激發狀態。此后在很短時間內，由于激發態不穩定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復到平衡態，以降低原子能級。當較外層的電子躍遷（符合量子力學理論）至內層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產生了x熒光。x熒光的能量與入射的能量無關，它只等于原子兩能級之間的能量差。由于能量差完全由該元素原子的殼層電子能級決定，故稱之為該元素的特征x射線，也稱熒光x射線或x熒光。  x熒光光譜法就是由x射線光管發生的一次x射線激發樣品，試樣可以被激發出各種波長的特征x射線熒光，需要把混合的x射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的x射線的強度，以進行定性和定量分析的方法。該方法是一種非破壞性的分析方法，常用的有能量色散型和波長色散型兩種類型。

   （二）、X熒光光譜儀簡單介紹之---X熒光光譜儀主要用途

　　X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。

　　近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得*多也*廣泛。

　　大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

（三）、 X熒光光譜儀簡單介紹之---X熒光光譜儀的優缺點

    1、優點

　　1) 分析時間短。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　2) 適用范圍廣。X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

　　3) 非破壞分析，重現性好。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

　　4) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

　　5) 分析精密度高。

　　6) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

    2、缺點

　　1）難于作**分析，故定量分析需要標樣。

　　2）對輕元素的靈敏度要低一些。

　　3）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。