UV-340/UV-313紫外輻照計(jì)產(chǎn)品用途
該款紫外輻照計(jì)采用 SMT 貼片技術(shù),選用低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
UV-340/UV-313紫外輻照計(jì)性能特點(diǎn)
* 光譜及角度特性經(jīng)校正
* 數(shù)字液晶顯示,帶背光
* 手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
* 數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電)
* 低電量提醒
* 自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
* 有數(shù)字保持
* 輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
UV-UV-340/UV-313紫外輻照計(jì)技術(shù)參數(shù)
* 波長(zhǎng) 范圍及峰值波長(zhǎng):( 以下兩種選其一)
(1)UV-340 探頭:λ:(315~370)nm;λ P =340nm
(2)UV-313 探頭:λ:(290~340)nm;λ P =313nm
* 輻照度測(cè)量范圍:
(0.1~199.9×103 ) μW/cm 2
* 紫外帶外區(qū)雜光:
UV313:小于 0.05%
UV340:小于 0.05%
* 相對(duì)示值誤差:±10%(相對(duì)與 NIM 標(biāo)準(zhǔn))
* 角度響應(yīng)特性:±5%(α ≤10°)
* 線性誤差:±1%
* 換檔誤差:±1%
* 短期不穩(wěn)定性:±1%(開(kāi)機(jī) 30min 后)
* 疲勞特性:衰減量小于 2%
* 零值誤差:滿量程的±1%
* 響應(yīng)時(shí)間:1 秒
* 使用環(huán)境: 溫度(0~40)℃,濕度<85%RH
* 尺寸和重量:160mm×78mm×43mm;0.2kg
* 電源 : 常規(guī)使用 6F22 型 9V 積層電池一只
亦可使用數(shù)據(jù)線連接 USB 接口、5V 電源適配器供電
整機(jī)功耗 <0.1VA