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圓柱漸開線齒輪的綜合測量
日期:2025-01-12 17:22
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摘要:
綜合測量可以分為單面嚙合測量和雙面嚙合綜合測量兩種。
單面嚙合測量的優點是被測齒輪與測量齒輪單面嚙合,測量運動接近于使用過程,測量結果能連續地反映出齒輪所有嚙合點上的誤差,以及包括切向誤差和徑向誤差的綜合(如幾何偏心與運動偏心,兩偏心在工作中可能互相抵消,也可能彼此迭加,故單項誤差評定齒輪質量是不完善的),能更充分而**的反映使用質量,且測量效率高,因此常用于成批生產的完工檢驗。單面嚙合測量是在單嚙儀上進行的。檢測時使被測齒輪在公稱中心距下與測量組件(測量齒輪或測量螺桿)單面嚙合,測量其回轉角的變化。
雙面嚙合綜合測量是通過測量雙嚙中心距的變動來測量徑向綜合誤差ΔF″i和一齒徑向綜合誤差Δf″i的。齒輪雙面嚙合綜合測量可在雙面嚙合綜合檢查儀進行。雙面嚙合綜合測量的缺點是與齒輪工作狀態不相符。其測量結果是輪齒兩齒面誤差的綜合反映,且只能反映齒輪徑向誤差。
圓柱漸開線齒輪的單項參數測量
圓柱漸開線齒輪單項參數測量的主要參數有齒距的測量、齒圈徑向跳動誤差的測量、公法線長度的測量、齒形誤差的測量、基節偏差的測量、齒厚偏差的測量
齒距的測量包括齒距累積誤差(ΔFp)及齒距偏差(ΔFpt)兩個參數的測量。各種齒距誤差(ΔFp、、Δfpt)的測量儀器和方法雖各不相同,但其基本原理是相同的,可分為相對測量和**測量兩種。將測量所得數據按不同方法進行處理,可以得到相應的誤差值。
齒圈徑向跳動ΔFr可以在專用齒輪跳動檢查儀或萬能測齒儀上測量,也可以用普通**座和千分表、圓棒、表架組合測量。該法效率較低,適用于單件、小批生產。
公法線長度可用公法線千分尺或公法線卡規測量。測量公法線長度時,要求測量器具的兩平行測量面與被測齒輪的異側齒面在分度圓附近相切。對于齒形角α=60º的齒輪,按n=(Z/9)+0.5選擇跨齒數。
模數為中等大小的齒輪,其齒形誤差一般在專用的漸開線檢查儀上測量,小模數齒輪的齒形誤差則可在投影儀或萬能工具顯微鏡上測量。
基節偏可用基節儀、萬能測齒儀測量,也可在萬能工具顯微鏡上測量。測量前,先按公稱基節Pb=πmcosα組合量塊,并夾持在量塊夾中,再以此調整活動量腳與固定量腳間距離,并把指示表對零。然后在均布方位測量6處,取其**值**的實際偏差作測量結果。
由于測量弧齒厚比較困難,通常都是測量弦齒厚,并以弦齒厚偏差代替弧齒厚偏差。通常用游標式或光學式齒厚卡尺以齒頂圓為定位基準測量齒厚,齒厚卡尺多用于測量中等精度以下的齒輪。因齒頂圓直徑存在加工誤差,為消除其對測量的影響,應用實際弦齒高代替
單面嚙合測量的優點是被測齒輪與測量齒輪單面嚙合,測量運動接近于使用過程,測量結果能連續地反映出齒輪所有嚙合點上的誤差,以及包括切向誤差和徑向誤差的綜合(如幾何偏心與運動偏心,兩偏心在工作中可能互相抵消,也可能彼此迭加,故單項誤差評定齒輪質量是不完善的),能更充分而**的反映使用質量,且測量效率高,因此常用于成批生產的完工檢驗。單面嚙合測量是在單嚙儀上進行的。檢測時使被測齒輪在公稱中心距下與測量組件(測量齒輪或測量螺桿)單面嚙合,測量其回轉角的變化。
雙面嚙合綜合測量是通過測量雙嚙中心距的變動來測量徑向綜合誤差ΔF″i和一齒徑向綜合誤差Δf″i的。齒輪雙面嚙合綜合測量可在雙面嚙合綜合檢查儀進行。雙面嚙合綜合測量的缺點是與齒輪工作狀態不相符。其測量結果是輪齒兩齒面誤差的綜合反映,且只能反映齒輪徑向誤差。
圓柱漸開線齒輪的單項參數測量
圓柱漸開線齒輪單項參數測量的主要參數有齒距的測量、齒圈徑向跳動誤差的測量、公法線長度的測量、齒形誤差的測量、基節偏差的測量、齒厚偏差的測量
齒距的測量包括齒距累積誤差(ΔFp)及齒距偏差(ΔFpt)兩個參數的測量。各種齒距誤差(ΔFp、、Δfpt)的測量儀器和方法雖各不相同,但其基本原理是相同的,可分為相對測量和**測量兩種。將測量所得數據按不同方法進行處理,可以得到相應的誤差值。
齒圈徑向跳動ΔFr可以在專用齒輪跳動檢查儀或萬能測齒儀上測量,也可以用普通**座和千分表、圓棒、表架組合測量。該法效率較低,適用于單件、小批生產。
公法線長度可用公法線千分尺或公法線卡規測量。測量公法線長度時,要求測量器具的兩平行測量面與被測齒輪的異側齒面在分度圓附近相切。對于齒形角α=60º的齒輪,按n=(Z/9)+0.5選擇跨齒數。
模數為中等大小的齒輪,其齒形誤差一般在專用的漸開線檢查儀上測量,小模數齒輪的齒形誤差則可在投影儀或萬能工具顯微鏡上測量。
基節偏可用基節儀、萬能測齒儀測量,也可在萬能工具顯微鏡上測量。測量前,先按公稱基節Pb=πmcosα組合量塊,并夾持在量塊夾中,再以此調整活動量腳與固定量腳間距離,并把指示表對零。然后在均布方位測量6處,取其**值**的實際偏差作測量結果。
由于測量弧齒厚比較困難,通常都是測量弦齒厚,并以弦齒厚偏差代替弧齒厚偏差。通常用游標式或光學式齒厚卡尺以齒頂圓為定位基準測量齒厚,齒厚卡尺多用于測量中等精度以下的齒輪。因齒頂圓直徑存在加工誤差,為消除其對測量的影響,應用實際弦齒高代替