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測(cè)試儀的特點(diǎn)
日期：2025-01-17 10:47
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摘要：
2.3.1.2交流（AC）測(cè)試的缺點(diǎn)
1.主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的雜散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無法得知實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)待測(cè)物的雜散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
1.主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的雜散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無法得知實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)待測(cè)物的雜散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
2.3.2直流（DC）測(cè)試的特點(diǎn)
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的雜散電容被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿后，會(huì)下降到零。
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的雜散電容被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿后，會(huì)下降到零。
2.3.2.1直流（DC）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1.一旦待測(cè)物上雜散電容被充滿，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供的電流非常小，所以儀器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
1.一旦待測(cè)物上雜散電容被充滿，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供的電流非常小，所以儀器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
2.3.2.2直流（DC）測(cè)試的缺點(diǎn)
1.除非待測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2.由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做下一步工作。
3.與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4.在交流測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓所無法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
1.除非待測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2.由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做下一步工作。
3.與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4.在交流測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓所無法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
2.4只有耐壓測(cè)試能檢測(cè)出下列狀況
·絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
·絕緣體上有針孔
·零組件之間的距離不夠
·絕緣體被擠壓而破裂HIOKI**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量儀器
·絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
·絕緣體上有針孔
·零組件之間的距離不夠
·絕緣體被擠壓而破裂HIOKI**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量儀器
自動(dòng)絕緣/耐壓測(cè)試儀3153
· 絕緣電阻測(cè)試(DC50V～1200V)，耐壓測(cè)試(AC/DC5000V)，全遠(yuǎn)程控制
· 可編程測(cè)試(測(cè)試程序32個(gè)文件，測(cè)試點(diǎn)每個(gè)文件50步)
· 通過PWM控制方法，產(chǎn)生**的測(cè)試電壓
· 3930高電壓掃描單元(選件)
· 可編程測(cè)試，全遠(yuǎn)程控制自動(dòng)絕緣耐壓測(cè)試儀
絕緣/耐壓測(cè)試儀3159
· 絕緣電阻測(cè)試（DC500V/1000V）
· 耐壓測(cè)試（AC5000V）
· 系列測(cè)試（從絕緣電阻測(cè)試到耐壓測(cè)試）
· 標(biāo)準(zhǔn)接口（外置I/O，外置開關(guān)，RS-232C，狀態(tài)輸出）
· 單臺(tái)儀器進(jìn)行絕緣及耐壓測(cè)試
交流耐壓測(cè)試儀3158
· 適應(yīng)各種**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試(5kV/500VA)
· 通過電流比較器，帶合格判定以及定時(shí)功能
· *多可保存20種符合各種標(biāo)準(zhǔn)·法規(guī)所規(guī)定的測(cè)試條件
· 附帶因測(cè)試電壓的誤設(shè)置而阻礙測(cè)試的電壓比較器功能
· 因?yàn)槟茉诹憬徊纥c(diǎn)進(jìn)行測(cè)試電壓的ON/OFF，即時(shí)被檢查機(jī)器不適合，也能防止被檢查機(jī)器的損壞
· 簡單實(shí)現(xiàn)以各種**標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的測(cè)試
便攜式耐壓測(cè)試儀3173
· 小巧，輕便操作簡單
· 0 ～ 3kV AC
· 定時(shí)功能 (設(shè)置范圍: 1 ～ 99 秒)
· 外部控制 (標(biāo)準(zhǔn))
· 一款經(jīng)濟(jì)、使用簡單的便攜耐壓測(cè)試儀。
絕緣電阻測(cè)試儀3154
· 從25V～1000V
· 6檔測(cè)試電壓： 直流 25V，50V，100V，250V，500V，1000V
· 滿足實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線的測(cè)試需要
· 絕緣測(cè)試儀-數(shù)字兆歐表
· 25～50V：2MΩ～200MΩ,3檔量程
100～250V：2MΩ～2000MΩ,4檔量程
500～1000V：2MΩ～4000MΩ,4檔量程
100～250V：2MΩ～2000MΩ,4檔量程
500～1000V：2MΩ～4000MΩ,4檔量程
交流接地電阻測(cè)試儀3157-01
· 簡單地實(shí)現(xiàn)符合國內(nèi)外各種**標(biāo)準(zhǔn)·法規(guī)的保護(hù)導(dǎo)通測(cè)試用于醫(yī)療電氣設(shè)備以及一般電氣設(shè)備的保護(hù)導(dǎo)通電阻測(cè)量電氣工作設(shè)備、配電板設(shè)置時(shí)的接地檢查醫(yī)療設(shè)備的保護(hù)接地、等電位接地工程的檢查評(píng)估大電流流過的接觸狀態(tài)
· 可外加不隨負(fù)載變動(dòng)而變動(dòng)的恒流反饋控制方式
· 確認(rèn)連接被測(cè)設(shè)備后，電流的外加軟件啟動(dòng)
· 標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證所必須的保護(hù)接地測(cè)試儀
泄漏電流測(cè)試儀3156
· 可進(jìn)行電氣**必要的泄漏電流測(cè)量
· 可存儲(chǔ)100單元數(shù)據(jù)
· 獨(dú)立供電
· 自動(dòng)兼容IEC/UL/JIS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的網(wǎng)絡(luò)
· 測(cè)量模式：對(duì)地泄漏電流外殼和地間的泄漏電流 / 外殼和外殼間的泄漏電流 / 外殼和線間的泄漏電流/ 患者泄漏電流 I /患者泄漏電流II / 患者泄漏電流III / 患者輔助電流
· 目標(biāo)電流：DC / AC / AC+DC (**25mA), AC peak(**75mA)
· 測(cè)量量程：DC / AC / AC+DC 模式 ; 50 μ A / 500 μA / 5 mA/ 25 mA
· AC 峰值模式 ; 500 μA / 1 mA / 10 mA / 75mA
2.3.1.2交流（AC）測(cè)試的缺點(diǎn)
1.主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的雜散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無法得知實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)待測(cè)物的雜散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
1.主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的雜散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無法得知實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)待測(cè)物的雜散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
2.3.2直流（DC）測(cè)試的特點(diǎn)
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的雜散電容被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿后，會(huì)下降到零。
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的雜散電容被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿后，會(huì)下降到零。
2.3.2.1直流（DC）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1.一旦待測(cè)物上雜散電容被充滿，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供的電流非常小，所以儀器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
1.一旦待測(cè)物上雜散電容被充滿，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供的電流非常小，所以儀器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
2.3.2.2直流（DC）測(cè)試的缺點(diǎn)
1.除非待測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2.由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做下一步工作。
3.與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4.在交流測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓所無法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
1.除非待測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2.由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做下一步工作。
3.與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4.在交流測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓所無法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
2.4只有耐壓測(cè)試能檢測(cè)出下列狀況
·絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
·絕緣體上有針孔
·零組件之間的距離不夠
·絕緣體被擠壓而破裂HIOKI**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量儀器
·絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
·絕緣體上有針孔
·零組件之間的距離不夠
·絕緣體被擠壓而破裂HIOKI**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量儀器
自動(dòng)絕緣/耐壓測(cè)試儀3153
· 絕緣電阻測(cè)試(DC50V～1200V)，耐壓測(cè)試(AC/DC5000V)，全遠(yuǎn)程控制
· 可編程測(cè)試(測(cè)試程序32個(gè)文件，測(cè)試點(diǎn)每個(gè)文件50步)
· 通過PWM控制方法，產(chǎn)生**的測(cè)試電壓
· 3930高電壓掃描單元(選件)
· 可編程測(cè)試，全遠(yuǎn)程控制自動(dòng)絕緣耐壓測(cè)試儀
絕緣/耐壓測(cè)試儀3159
· 絕緣電阻測(cè)試（DC500V/1000V）
· 耐壓測(cè)試（AC5000V）
· 系列測(cè)試（從絕緣電阻測(cè)試到耐壓測(cè)試）
· 標(biāo)準(zhǔn)接口（外置I/O，外置開關(guān)，RS-232C，狀態(tài)輸出）
· 單臺(tái)儀器進(jìn)行絕緣及耐壓測(cè)試
交流耐壓測(cè)試儀3158
· 適應(yīng)各種**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試(5kV/500VA)
· 通過電流比較器，帶合格判定以及定時(shí)功能
· *多可保存20種符合各種標(biāo)準(zhǔn)·法規(guī)所規(guī)定的測(cè)試條件
· 附帶因測(cè)試電壓的誤設(shè)置而阻礙測(cè)試的電壓比較器功能
· 因?yàn)槟茉诹憬徊纥c(diǎn)進(jìn)行測(cè)試電壓的ON/OFF，即時(shí)被檢查機(jī)器不適合，也能防止被檢查機(jī)器的損壞
· 簡單實(shí)現(xiàn)以各種**標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的測(cè)試
便攜式耐壓測(cè)試儀3173
· 小巧，輕便操作簡單
· 0 ～ 3kV AC
· 定時(shí)功能 (設(shè)置范圍: 1 ～ 99 秒)
· 外部控制 (標(biāo)準(zhǔn))
· 一款經(jīng)濟(jì)、使用簡單的便攜耐壓測(cè)試儀。
絕緣電阻測(cè)試儀3154
· 從25V～1000V
· 6檔測(cè)試電壓： 直流 25V，50V，100V，250V，500V，1000V
· 滿足實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線的測(cè)試需要
· 絕緣測(cè)試儀-數(shù)字兆歐表
· 25～50V：2MΩ～200MΩ,3檔量程
100～250V：2MΩ～2000MΩ,4檔量程
500～1000V：2MΩ～4000MΩ,4檔量程
100～250V：2MΩ～2000MΩ,4檔量程
500～1000V：2MΩ～4000MΩ,4檔量程
交流接地電阻測(cè)試儀3157-01
· 簡單地實(shí)現(xiàn)符合國內(nèi)外各種**標(biāo)準(zhǔn)·法規(guī)的保護(hù)導(dǎo)通測(cè)試用于醫(yī)療電氣設(shè)備以及一般電氣設(shè)備的保護(hù)導(dǎo)通電阻測(cè)量電氣工作設(shè)備、配電板設(shè)置時(shí)的接地檢查醫(yī)療設(shè)備的保護(hù)接地、等電位接地工程的檢查評(píng)估大電流流過的接觸狀態(tài)
· 可外加不隨負(fù)載變動(dòng)而變動(dòng)的恒流反饋控制方式
· 確認(rèn)連接被測(cè)設(shè)備后，電流的外加軟件啟動(dòng)
· 標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證所必須的保護(hù)接地測(cè)試儀
泄漏電流測(cè)試儀3156
· 可進(jìn)行電氣**必要的泄漏電流測(cè)量
· 可存儲(chǔ)100單元數(shù)據(jù)
· 獨(dú)立供電
· 自動(dòng)兼容IEC/UL/JIS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的網(wǎng)絡(luò)
· 測(cè)量模式：對(duì)地泄漏電流外殼和地間的泄漏電流 / 外殼和外殼間的泄漏電流 / 外殼和線間的泄漏電流/ 患者泄漏電流 I /患者泄漏電流II / 患者泄漏電流III / 患者輔助電流
· 目標(biāo)電流：DC / AC / AC+DC (**25mA), AC peak(**75mA)
· 測(cè)量量程：DC / AC / AC+DC 模式 ; 50 μ A / 500 μA / 5 mA/ 25 mA
· AC 峰值模式 ; 500 μA / 1 mA / 10 mA / 75mA
2.3.1.2交流（AC）測(cè)試的缺點(diǎn)
1.主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的雜散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無法得知實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)待測(cè)物的雜散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
1.主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的雜散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無法得知實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)待測(cè)物的雜散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
2.3.2直流（DC）測(cè)試的特點(diǎn)
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的雜散電容被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿后，會(huì)下降到零。
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的雜散電容被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿后，會(huì)下降到零。
2.3.2.1直流（DC）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1.一旦待測(cè)物上雜散電容被充滿，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供的電流非常小，所以儀器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
1.一旦待測(cè)物上雜散電容被充滿，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供的電流非常小，所以儀器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
2.3.2.2直流（DC）測(cè)試的缺點(diǎn)
1.除非待測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2.由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做下一步工作。
3.與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4.在交流測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓所無法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
1.除非待測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2.由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做下一步工作。
3.與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4.在交流測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓所無法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
2.4只有耐壓測(cè)試能檢測(cè)出下列狀況
·絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
·絕緣體上有針孔
·零組件之間的距離不夠
·絕緣體被擠壓而破裂HIOKI**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量儀器
·絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
·絕緣體上有針孔
·零組件之間的距離不夠
·絕緣體被擠壓而破裂HIOKI**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量儀器
自動(dòng)絕緣/耐壓測(cè)試儀3153
· 絕緣電阻測(cè)試(DC50V～1200V)，耐壓測(cè)試(AC/DC5000V)，全遠(yuǎn)程控制
· 可編程測(cè)試(測(cè)試程序32個(gè)文件，測(cè)試點(diǎn)每個(gè)文件50步)
· 通過PWM控制方法，產(chǎn)生**的測(cè)試電壓
· 3930高電壓掃描單元(選件)
· 可編程測(cè)試，全遠(yuǎn)程控制自動(dòng)絕緣耐壓測(cè)試儀
絕緣/耐壓測(cè)試儀3159
· 絕緣電阻測(cè)試（DC500V/1000V）
· 耐壓測(cè)試（AC5000V）
· 系列測(cè)試（從絕緣電阻測(cè)試到耐壓測(cè)試）
· 標(biāo)準(zhǔn)接口（外置I/O，外置開關(guān)，RS-232C，狀態(tài)輸出）
· 單臺(tái)儀器進(jìn)行絕緣及耐壓測(cè)試
交流耐壓測(cè)試儀3158
· 適應(yīng)各種**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試(5kV/500VA)
· 通過電流比較器，帶合格判定以及定時(shí)功能
· *多可保存20種符合各種標(biāo)準(zhǔn)·法規(guī)所規(guī)定的測(cè)試條件
· 附帶因測(cè)試電壓的誤設(shè)置而阻礙測(cè)試的電壓比較器功能
· 因?yàn)槟茉诹憬徊纥c(diǎn)進(jìn)行測(cè)試電壓的ON/OFF，即時(shí)被檢查機(jī)器不適合，也能防止被檢查機(jī)器的損壞
· 簡單實(shí)現(xiàn)以各種**標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的測(cè)試
便攜式耐壓測(cè)試儀3173
· 小巧，輕便操作簡單
· 0 ～ 3kV AC
· 定時(shí)功能 (設(shè)置范圍: 1 ～ 99 秒)
· 外部控制 (標(biāo)準(zhǔn))
· 一款經(jīng)濟(jì)、使用簡單的便攜耐壓測(cè)試儀。
絕緣電阻測(cè)試儀3154
· 從25V～1000V
· 6檔測(cè)試電壓： 直流 25V，50V，100V，250V，500V，1000V
· 滿足實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線的測(cè)試需要
· 絕緣測(cè)試儀-數(shù)字兆歐表
· 25～50V：2MΩ～200MΩ,3檔量程
100～250V：2MΩ～2000MΩ,4檔量程
500～1000V：2MΩ～4000MΩ,4檔量程
100～250V：2MΩ～2000MΩ,4檔量程
500～1000V：2MΩ～4000MΩ,4檔量程
交流接地電阻測(cè)試儀3157-01
· 簡單地實(shí)現(xiàn)符合國內(nèi)外各種**標(biāo)準(zhǔn)·法規(guī)的保護(hù)導(dǎo)通測(cè)試用于醫(yī)療電氣設(shè)備以及一般電氣設(shè)備的保護(hù)導(dǎo)通電阻測(cè)量電氣工作設(shè)備、配電板設(shè)置時(shí)的接地檢查醫(yī)療設(shè)備的保護(hù)接地、等電位接地工程的檢查評(píng)估大電流流過的接觸狀態(tài)
· 可外加不隨負(fù)載變動(dòng)而變動(dòng)的恒流反饋控制方式
· 確認(rèn)連接被測(cè)設(shè)備后，電流的外加軟件啟動(dòng)
· 標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證所必須的保護(hù)接地測(cè)試儀
泄漏電流測(cè)試儀3156
· 可進(jìn)行電氣**必要的泄漏電流測(cè)量
· 可存儲(chǔ)100單元數(shù)據(jù)
· 獨(dú)立供電
· 自動(dòng)兼容IEC/UL/JIS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的網(wǎng)絡(luò)
· 測(cè)量模式：對(duì)地泄漏電流外殼和地間的泄漏電流 / 外殼和外殼間的泄漏電流 / 外殼和線間的泄漏
2.3.1.2交流（AC）測(cè)試的缺點(diǎn)/ 患者泄漏電流 I /患者泄漏電流II / 患者泄漏電流III / 患者輔助電流
1.主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的雜散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無法得知實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)待測(cè)物的雜散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
1.主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的雜散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無法得知實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)待測(cè)物的雜散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
2.3.2直流（DC）測(cè)試的特點(diǎn)
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的雜散電容被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿后，會(huì)下降到零。
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的雜散電容被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在雜散電容被充滿后，會(huì)下降到零。
2.3.2.1直流（DC）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1.一旦待測(cè)物上雜散電容被充滿，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供的電流非常小，所以儀器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
1.一旦待測(cè)物上雜散電容被充滿，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。
2.另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供的電流非常小，所以儀器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。
2.3.2.2直流（DC）測(cè)試的缺點(diǎn)
1.除非待測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2.由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做下一步工作。
3.與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4.在交流測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓所無法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
1.除非待測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2.由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做下一步工作。
3.與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4.在交流測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示的1.4倍，這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓所無法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
2.4只有耐壓測(cè)試能檢測(cè)出下列狀況
·絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
·絕緣體上有針孔
·零組件之間的距離不夠
·絕緣體被擠壓而破裂HIOKI**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量儀器
·絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
·絕緣體上有針孔
·零組件之間的距離不夠
·絕緣體被擠壓而破裂HIOKI**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量儀器
自動(dòng)絕緣/耐壓測(cè)試儀3153
· 絕緣電阻測(cè)試(DC50V～1200V)，耐壓測(cè)試(AC/DC5000V)，全遠(yuǎn)程控制
· 可編程測(cè)試(測(cè)試程序32個(gè)文件，測(cè)試點(diǎn)每個(gè)文件50步)
· 通過PWM控制方法，產(chǎn)生**的測(cè)試電壓
· 3930高電壓掃描單元(選件)
· 可編程測(cè)試，全遠(yuǎn)程控制自動(dòng)絕緣耐壓測(cè)試儀
絕緣/耐壓測(cè)試儀3159
· 絕緣電阻測(cè)試（DC500V/1000V）
· 耐壓測(cè)試（AC5000V）
· 系列測(cè)試（從絕緣電阻測(cè)試到耐壓測(cè)試）
· 標(biāo)準(zhǔn)接口（外置I/O，外置開關(guān)，RS-232C，狀態(tài)輸出）
· 單臺(tái)儀器進(jìn)行絕緣及耐壓測(cè)試
交流耐壓測(cè)試儀3158
· 適應(yīng)各種**標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試(5kV/500VA)
· 通過電流比較器，帶合格判定以及定時(shí)功能
· *多可保存20種符合各種標(biāo)準(zhǔn)·法規(guī)所規(guī)定的測(cè)試條件
· 附帶因測(cè)試電壓的誤設(shè)置而阻礙測(cè)試的電壓比較器功能
· 因?yàn)槟茉诹憬徊纥c(diǎn)進(jìn)行測(cè)試電壓的ON/OFF，即時(shí)被檢查機(jī)器不適合，也能防止被檢查機(jī)器的損壞
· 簡單實(shí)現(xiàn)以各種**標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的測(cè)試
便攜式耐壓測(cè)試儀3173
· 小巧，輕便操作簡單
· 0 ～ 3kV AC
· 定時(shí)功能 (設(shè)置范圍: 1 ～ 99 秒)
· 外部控制 (標(biāo)準(zhǔn))
· 一款經(jīng)濟(jì)、使用簡單的便攜耐壓測(cè)試儀。
絕緣電阻測(cè)試儀3154
· 從25V～1000V
· 6檔測(cè)試電壓： 直流 25V，50V，100V，250V，500V，1000V
· 滿足實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線的測(cè)試需要
· 絕緣測(cè)試儀-數(shù)字兆歐表
· 25～50V：2MΩ～200MΩ,3檔量程
100～250V：2MΩ～2000MΩ,4檔量程
500～1000V：2MΩ～4000MΩ,4檔量程
100～250V：2MΩ～2000MΩ,4檔量程
500～1000V：2MΩ～4000MΩ,4檔量程
交流接地電阻測(cè)試儀3157-01
· 簡單地實(shí)現(xiàn)符合國內(nèi)外各種**標(biāo)準(zhǔn)·法規(guī)的保護(hù)導(dǎo)通測(cè)試用于醫(yī)療電氣設(shè)備以及一般電氣設(shè)備的保護(hù)導(dǎo)通電阻測(cè)量電氣工作設(shè)備、配電板設(shè)置時(shí)的接地檢查醫(yī)療設(shè)備的保護(hù)接地、等電位接地工程的檢查評(píng)估大電流流過的接觸狀態(tài)
· 可外加不隨負(fù)載變動(dòng)而變動(dòng)的恒流反饋控制方式
· 確認(rèn)連接被測(cè)設(shè)備后，電流的外加軟件啟動(dòng)
· 標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證所必須的保護(hù)接地測(cè)試儀
泄漏電流測(cè)試儀3156
· 可進(jìn)行電氣**必要的泄漏電流測(cè)量
· 可存儲(chǔ)100單元數(shù)據(jù)
· 獨(dú)立供電
· 自動(dòng)兼容IEC/UL/JIS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的網(wǎng)絡(luò)
· 測(cè)量模式：對(duì)地泄漏電流外殼和地間的泄漏電流 / 外殼和外殼間的泄漏電流 / 外殼和線間的泄漏電流/ 患者泄漏電流 I /患者泄漏電流II / 患者泄漏電流III / 患者輔助電流
· 目標(biāo)電流：DC / AC / AC+DC (**25mA), AC peak(**75mA)
· 測(cè)量量程：DC / AC / AC+DC 模式 ; 50 μ A / 500 μA / 5 mA/ 25 mA
· AC 峰值模式 ; 500 μA / 1 mA / 10 mA / 75mA
電流
· 目標(biāo)電流：DC / AC / AC+DC (**25mA), AC peak(**75mA)
· 測(cè)量量程：DC / AC / AC+DC 模式 ; 50 μ A / 500 μA / 5 mA/ 25 mA
· AC 峰值模式 ; 500 μA / 1 mA / 10 mA / 75mA
