文章詳情
JB/ZQ 6109--84 鑄鋼件超聲波檢測方法
日期：2024-12-28 12:50
瀏覽次數：2547
摘要：
本標準適用于碳鋼和低合金鋼鑄件內部質量的超聲檢驗。其內容包括探測方法和質量分級規定。
本標準等效采用ASTM工A609--80《碳鋼和低合金鋼鑄件的超聲波檢驗》。
1定貨要求
1.1需方應向制造廠明確提出如下要求:
1.1.1整個鑄件或鑄件的某些部分的質量等級;
1.1.2鑄件要縱波檢測的部位;
1.1.3除縱波檢查外,要用雙晶探頭對鑄件近表面進行較嚴格檢查的部分和檢測深度;
1.1.4鑄件經制造廠同意按附錄A作補充檢測的部位;
1.1.5對上述各款的其他附加要求。
2鑄件要求
2.1在超聲檢測之前,鑄件應至少進行一次奧氏體化熱處理。
2.2鑄件探傷表面應沒有影響超聲檢測的物質,已加工表面應達到△4以上光潔度,未加工表面需要打磨平滑。
2.3妨礙超聲檢查的機加工應在檢測后進行。
3儀器設備
3.2雙晶探頭適用的探測范圍是從**靈敏度到下降至6dB的一段距離范圍內。對于25mm以內的深度建議用12°夾角。
3.3直探頭晶片為12--28mm,探頭應在標稱頻率下使用。為了保持與工件良好接觸,建議使用軟膜探頭。
3.4為了**判定缺陷,也可用其他規格的直探頭和雙晶探頭。
3.5參考試塊應由鑄鋼制成,其超聲特性類似于被檢鑄件。直探頭用的基本參考試塊,其形態應如圖1所示,其尺寸列于表1。當檢驗的截面厚度超過250mm時,要制作**試驗厚度的附加試塊來補充本試塊。
3.6雙晶探頭用參考試塊應如圖2所示,其尺寸見表2。
3.7耦合劑采用機油和其他聲阻抗合適的物質。
圖1
表1 mm
孔 徑 | 金屬距離B | 總 長C | 直 徑D | 編 號 |
Φ6 | 25 50 75 150 250 B | 45 70 95 170 270 B+20 | 50 50 50 75 100 125 | CSZ--1 CSZ--2 CSZ--3 CSZ--4 CSZ--5 CSZ--6 |
表2 mm
孔徑 | 2.5 | 2.5 | 2.5 | 2.5 | 2.5 | 2.5 | 2.5 | 2.5 |
孔深h | 47 | 44 | 38 | 32 | 26 | 20 | 14 | 8 |
金屬距離 | 3 | 6 | 12 | 18 | 24 | 30 | 36 | 42 |
4探傷方法和部位
4.1一般以縱波垂直反射法進行,必要時可用橫波法幫助判定缺陷。在規定用雙晶探頭探傷的部位,用雙晶探頭探傷。
4.2探傷位置由圖紙或有關技術文件規定。
5探傷操作要求
5.1為使缺陷不漏檢,探頭移動速度不得大于150mm/s,每次掃查至少要疊壓換能器寬度或直徑的15%。
5.2當工件表面比試塊表面粗糙時,應補償聲能損失。聲能損失的測量如下:首先在鑄件上選擇一處或幾處內部良好部位為測量點。這些測量點的表面光潔度應能基本代表其他部位的光潔度,并且在測量點處的探測面和底面應是平行的。然后選擇一厚度同測量點處的鑄件厚度基本一致的試塊校準儀器。當測量點的底反射同試塊的底反射一致時,讀出的兩者分貝差就是聲能損失值。采用這種方法,在鑄件上的檢驗靈敏度可以預計在試塊靈敏度的±30%以內或更小一些。
5.3進行缺陷記錄時,采用作距離振幅校正線的方法,凡高于距離振幅校正線的應予記錄。作距離振幅校正線的方法如下:采用一組厚度范圍包括被檢鑄件厚度的參考試塊,在熒光屏上或坐標紙上標記出各平底孔的反射波高點,劃一條線,這條線就是距離振幅校正線。
5.4當對鑄鋼件的探測面同底面平行的區域進行縱波檢查時,要重新檢查底回波降低75%以上(含75%)的區域。來確定這是不是由于接觸**、耦合劑不足或缺陷方向不利等引起的。如果反射回波損失的理由不明,就要認為這個區域是有問題的,并應進一步加以研究。
6探傷人員要求
6.1探傷人員必須熟悉如下各項:
a.本標準及本標準所涉及的有關標準;
b.儀器校正;
c.換能器的材料、尺寸、頻率和類型對試驗結果的影響;
d.檢驗距離和非線性對試驗結果的影響;
e.鑄件表面情況和內部組織以及缺陷情況對試驗結果的影響。
6.2探傷人員必須有相應的無損檢測人員資格證書。
7驗收標準
7.1超聲探傷的驗收標準應以鑄件的使用條件、大小、形狀、成分、缺陷的情況以及在實際生產中鑄件通常能達到的質量為基礎。驗收標準應在有關技術文件或圖紙中指出。
7.2應采用表3中的任一等級作為驗收標準。
7.3驗收質量等級應由供需雙方按下列判斷標準之一條或幾條為基礎來制定。
7.3.1在表3中的質量等級規定的面積內,底波反射低于距離振幅校正曲線。
7.3.2在表3中的質量等級規定的面積內,測得由缺陷引起的底波衰減小于75%(含75%)。
